第4年
通過認證 
梅特勒 硅 1通道/墻裝 2850Si Silic
梅特勒 InPro2000i/SG/450/9816pH傳
梅特勒 SmartCal標準測試樣品12
梅特勒 AX16004質量比較器
梅特勒 XPR226DRQ天平
梅特勒 M800 Water 2-CH工業(yè)多參數(shù)
梅特勒 Analyzer,2300Na鈉分析儀
梅特勒 Pipet-Lite XLS間距可調手動
梅特勒 RX4折光率模塊
每次均得有效結果.XPR分析天平、81/220 g量程、0.01/0.1 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動內部校正且兼容LabX
一次即準的結果
集成的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項條件處于優(yōu)異狀態(tài)，獲得正確的稱量結果。
StaticDetect
由于具備StaticDetect靜電檢測功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。
隨時可進行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為法規(guī)遵從和數(shù)據完整性提供全面支持。
規(guī)格 - 電子天平 XPR205DU/AC
| 最大秤量 | 220 g/81 g |
| 可讀性 | 0.1 mg; 0.01 mg |
| 重復性測試載荷 | 0.015 mg (10 g) |
| 最小稱量值（USP, 0.1%，典型值) | 20 mg |
| 校正 | 內部/ FACT |
| 秤盤外形尺寸(寬x深) | 78 mm x 73 mm |
| 合法交易 | Yes |
| 穩(wěn)定時間 | 1.5 s |
| 重復性（典型值） | 0.01 mg |
| 線性誤差（典型值）± | 0.2 mg |
| 尺寸 | 485 mm |
| 尺寸 (高x寬) | 292 mm x 195 mm |
| 物料號 (s) | 30535455 |
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