開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀(代替原晶體管圖示儀)支持所有的設(shè)備類型和測試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電壓曲線測試(CV曲線測試)和高功率脈沖IV曲線測量。
特點
完善的解決方案,價格實惠且性能優(yōu)異
可現(xiàn)場升級和重新配置,將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測試儀
可配置功率電平:
200V 至 3kV
1A 至 100A
寬動態(tài)范圍:
μV 至 3kV
fA 至 100A
全量程容-電壓 (C-V) 能力:
fF 至 μF
支持 2、3 和 4 端器件
高達(dá) 3kV DC 偏移
高性能測試夾具支持一系列軟件包類型
探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型,包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標(biāo)準(zhǔn)同軸三線電纜等
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