在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE?CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。

庫侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了最大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

• 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)

• 根據(jù)DIN EN ISO 2177進行測量

• 通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作

• 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

• 針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預先設(shè)定了近100種測量應用

• 測量單元上電壓曲線的圖形顯示

• 圖形和統(tǒng)計評估

• 帶支撐架的部分自動化測量，適用于各種樣品尺寸

• 全面的配件組合，以適應特定的要求

COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

• 同時測量鍍層厚度和電位差

• 根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試

• 銀參比電極測量前的準備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)

• 電解電流可調(diào)整

• 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線

• 電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進廠檢驗

• 可以精確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50μm(根據(jù)材料不同)

• 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量

• 多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層

• 雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳

• 單鍍層如鐵上鍍鋅

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