高端全能型
XDV?-SDD是Fischer產(chǎn)品組合中功能最強(qiáng)大的X射線(xiàn)熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測(cè)器(SDD)。這使您能夠無(wú)損地測(cè)量最薄的鍍層,例如引線(xiàn)框架上約2nm厚的金涂層。
同時(shí),XDV-SDD非常適合無(wú)損分析材料。例如,它對(duì)塑料中痕量鉛的檢測(cè)靈敏度約為2 ppm,比RoHS或CPSIA要求的值低幾個(gè)數(shù)量級(jí)。
為了使您可以為每次測(cè)量創(chuàng)建理想的條件,XDV-SDD具有可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片,這樣就可以科學(xué)地進(jìn)行工作。此外,這種耐用的設(shè)備易于操作,而且是專(zhuān)為工業(yè)用途的系列測(cè)試而設(shè)計(jì)。自動(dòng)擴(kuò)展的測(cè)量平臺(tái)和測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)時(shí)圖像等功能使您的日常工作更加輕松。
特點(diǎn)
高端通用X射線(xiàn)熒光分析儀,用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層(0.05μm)百萬(wàn)分之一以下的精細(xì)材料分析
使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測(cè)器(SDD 50 mm2)
6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測(cè)量條件
分析輕元素,例如鋁,硅和磷
樣品高度高達(dá)14厘米
高精度,可編程XY工作臺(tái),定位精度為5 μm,用于小型結(jié)構(gòu)的自動(dòng)測(cè)量;
結(jié)構(gòu)堅(jiān)固,可進(jìn)行連續(xù)測(cè)試,具有卓越的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
經(jīng)過(guò)認(rèn)證的全面防護(hù)裝置
應(yīng)用
測(cè)試電子和半導(dǎo)體工業(yè)中的極薄涂層,例如厚度小于50nm的金和鈀層;
在汽車(chē)制造業(yè)中測(cè)量硬質(zhì)材料涂層
在光伏行業(yè)中測(cè)量鍍層厚度
根據(jù)RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令(電子,包裝和消費(fèi)品)對(duì)有害物質(zhì)如鉛和鎘進(jìn)行痕量分析
黃金,其他貴金屬和合金的分析和真實(shí)性測(cè)試
直接測(cè)定功能性NiP涂層中磷的含量
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